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軸承套圈端面缺陷在線視覺檢測(cè)的研究與實(shí)現(xiàn)

針對(duì)軸承生產(chǎn)企業(yè)套圈生產(chǎn)過程中普遍存在端面缺陷的問題與人工目檢的現(xiàn)狀,提出了基于機(jī)器視覺的軸承套圈端面缺陷在線檢測(cè)方法。首先,對(duì)套圈圖像預(yù)處理后進(jìn)行邊緣檢測(cè),采用四連通域定位套圈端面區(qū)域;其次,采用最小二乘法擬合端面輪廓以判別外形缺陷,采用極坐標(biāo)變換將套圈環(huán)形端面拉伸成矩形,采用Sauvola局部二值化算法對(duì)矩形圖進(jìn)行缺陷分割,并通過坐標(biāo)系反變換與雙線性插值法將缺陷圖轉(zhuǎn)換回環(huán)形圖;最后,根據(jù)提取缺陷的圖像特征完成缺陷的識(shí)別與分類?,F(xiàn)場(chǎng)測(cè)試表明,套圈端面檢測(cè)系統(tǒng)的整體識(shí)別準(zhǔn)確率達(dá)98.6%。


軸承是保證機(jī)械裝備回轉(zhuǎn)精度不可或缺的基礎(chǔ)部件,軸承套圈在經(jīng)過平面磨削加工后,其端面可能依然存在鍛廢、大小邊、磕碰傷、車廢、磨傷、黑皮等外觀缺陷。如果套圈端面存在缺陷,其作為外圓無心磨等后序工位的定位面,勢(shì)必影響加工精度和軸承的回轉(zhuǎn)精度,可能導(dǎo)致軸承使用過程中產(chǎn)生噪聲和振動(dòng),從而加速磨損,甚至引發(fā)機(jī)器故障。另一方面,端面缺陷套圈進(jìn)入后續(xù)工序加工后剔除或成品進(jìn)入市場(chǎng)后召回,都會(huì)給企業(yè)帶來物資與人力成本的極大浪費(fèi)。因此,必須在平面磨削加工后將缺陷品剔除,避免流入后續(xù)工序。


目前,大多企業(yè)仍憑借質(zhì)檢員肉眼與主觀經(jīng)驗(yàn)對(duì)套圈進(jìn)行鑒定與判斷,質(zhì)檢結(jié)果易受人為因素影響,檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)難以保持一致,穩(wěn)定性差且易漏檢。機(jī)器視覺具有精度高、效率高、實(shí)時(shí)性好等優(yōu)點(diǎn),是替代人工檢測(cè)的有效方法,例如:文獻(xiàn)[2]采用改進(jìn)Otsu方法進(jìn)行閾值化處理,利用八連通域標(biāo)記識(shí)別技術(shù)實(shí)現(xiàn)了軸承端面的非接觸檢測(cè);文獻(xiàn)[3]利用紋理單元解決了空氣軸承表面變化的光照強(qiáng)度影響圖像采集的問題。


在上述研究的基礎(chǔ)上,本文提出一種軸承套圈端面缺陷在線視覺檢測(cè)方法,采用四連通域、種子填充算法定位檢測(cè)區(qū)域,Sauvola局部二值化算法進(jìn)行圖像分割并基于多特征的外觀缺陷識(shí)別法判別缺陷。


1、光源選擇與檢測(cè)區(qū)域定位

1.1 光源選擇

光源是視覺檢測(cè)系統(tǒng)不可或缺的組成部分,直接關(guān)系到成像質(zhì)量。良好的照明方式可以凸顯目標(biāo)區(qū)域的特征,減輕圖像處理工作量。


端面缺陷檢測(cè)成像面為圓環(huán)形金屬端面,具有一定的鏡面發(fā)射效應(yīng),且被測(cè)套圈尺寸跨度大,故采用球積分漫反射無影照明方式,照射面積大,光線集中且照射均勻,不會(huì)形成鏡面反射,如圖1所示。

圖1 球積分漫反射無影照明

Fig.1 Spherical integral diffuse reflection shadowless illumination

1.2 圖像預(yù)處理

圖像捕獲過程中存在的噪聲與干擾會(huì)降低圖像質(zhì)量,增加后續(xù)邊緣檢測(cè)與圖像分割的難度因此,需要對(duì)原始圖像進(jìn)行一定的預(yù)處理,消除圖像中的噪聲與干擾,均值濾波、高斯濾波、中值濾波的對(duì)比效果如圖2所示。由于端面環(huán)形區(qū)域外為背景區(qū)域,灰度值較低,均值濾波處理后的環(huán)形區(qū)域明暗對(duì)比變?nèi)?,圖像也變得模糊;中值濾波處理后的端面邊緣部分被黑色區(qū)域影響,邊緣細(xì)節(jié)丟失;而高斯濾波由于加權(quán)平均的特點(diǎn),在去除噪聲的同時(shí)可以很好地保留圓環(huán)及其邊緣的細(xì)節(jié)。針對(duì)套圈端面區(qū)域與背景區(qū)域?qū)Ρ容^大,并且需要檢測(cè)出細(xì)小缺陷的特點(diǎn),選取大小為3×3,標(biāo)準(zhǔn)差為1的濾波窗口進(jìn)行高斯濾波。

圖2 不同濾波方式效果圖

Fig.2 Effect diagram by different filtering methods

1.3 邊緣檢測(cè)

邊緣檢測(cè)是通過識(shí)別圖像中亮度發(fā)生明顯變化的部分確定需要識(shí)別圖像邊緣的位置。區(qū)域內(nèi)灰度突變反映了圖像的重要變化,是價(jià)值極高的圖像特征。針對(duì)本研究,邊緣檢測(cè)可以很好地完成套圈端面區(qū)域與背景區(qū)域的劃分,更容易實(shí)現(xiàn)檢測(cè)區(qū)域的定位,為下一步處理做好準(zhǔn)備工作。


常用的邊緣檢測(cè)算子包括Canny 算子、Sobel算子與Laplacian算子。Sobel算子對(duì)噪聲和灰度漸變的邊緣適應(yīng)能力較強(qiáng),但對(duì)圖像有平滑處理功能,適用于對(duì)精度要求不高的場(chǎng)合;Laplacian算子對(duì)噪聲的抗干擾能力較差,會(huì)將無效像素視為邊緣點(diǎn),但會(huì)突出邊緣的對(duì)比度,適用于圖像銳化場(chǎng)景;Canny算子具備錯(cuò)誤率低,定位能力強(qiáng),邊緣像素響應(yīng)單一等特性,被稱為最優(yōu)秀的邊緣檢測(cè)器。3種算子的對(duì)比如圖3所示,Canny算子的抗噪聲干擾能力更強(qiáng),對(duì)邊緣的定位能力較強(qiáng),能檢測(cè)出真正的弱邊緣。因此,本文選取高低閾值比率為2:1的Canny 算子提取套圈端面圓環(huán)的2條輪廓。

圖3 各算子邊緣檢測(cè)效果對(duì)比

Fig.3 Comparison of edge inspection effects of various operators

1.4 端面定位

檢測(cè)區(qū)域定位有2種方法:1)對(duì)邊緣輪廓進(jìn)行最小二乘法擬合得到大小圓圓心與半徑,根據(jù)像素點(diǎn)是否在小圓外、大圓內(nèi)進(jìn)行端面定位;2)利用四連通域法進(jìn)行端面區(qū)域定位。大量試驗(yàn)表明,由于鏡頭畸變和套圈端面倒角的影響,第1種方法偶爾會(huì)出現(xiàn)實(shí)際端面點(diǎn)沒有包含在擬合端面內(nèi)的情況,造成誤檢或漏檢,因此本文利用四連通域法進(jìn)行端面區(qū)域定位。


坐標(biāo)(xy)處的像素點(diǎn)Р有上下左右4個(gè)相鄰像素,坐標(biāo)分別為(x,y-1),(x,y+1) ,(x-1,y) ,( +1,y),這4個(gè)像素點(diǎn)表示Р的四鄰域,用N4(P)表示。點(diǎn)P的4個(gè)對(duì)角點(diǎn)與四鄰域一起稱為Р的八鄰域,用N8(P)表示,其中4個(gè)對(duì)角點(diǎn)的坐標(biāo)分別為(x-1,y-1 ),(x-1,y+1) , (x+1,y-1),(x+1 ,y+1)。四鄰域與八鄰域的示意圖如圖4所示,圖中灰色區(qū)域表示Р點(diǎn)鄰域。如果2個(gè)像素鄰接,則稱這2個(gè)像素是連通的,圖4a中灰色區(qū)域與Р點(diǎn)為四連通。

圖4 四鄰域與八鄰域示意圖

Fig.4 Diagram of P point four neighborhood and eight neighborhood

邊緣檢測(cè)提取的輪廓基于八鄰域連接且圖像為二值圖,因此可以利用種子填充算法定位檢測(cè)區(qū)域,操作步驟如圖5所示:

1)在端面區(qū)域內(nèi)找到一個(gè)前景像素點(diǎn)Р作為初始種子,設(shè)初始種子為(xmin+(rmax-rmin)/2,ymin)即可,將Р點(diǎn)壓入棧中并做好標(biāo)記。

2)將Р點(diǎn)彈出棧頂,遍歷Р點(diǎn)的上下左右4個(gè)鄰域點(diǎn),如果Р點(diǎn)的鄰域點(diǎn)不是輪廓點(diǎn)(像素值為0)或未被標(biāo)記,則將該鄰域點(diǎn)壓入棧中并做好標(biāo)記。

3)彈出棧頂鄰域點(diǎn),遍歷該鄰域點(diǎn)的上下左右4個(gè)鄰域點(diǎn),如果該鄰域點(diǎn)的4個(gè)鄰域點(diǎn)不是輪廓點(diǎn)或未被標(biāo)記,則將該鄰域點(diǎn)壓入棧中并做好標(biāo)記。

4)重復(fù)第3步,直到棧為空,所有鄰域點(diǎn)均被標(biāo)記。

圖5 四鄰接連通域法進(jìn)行端面定位

Fig.5 Four adjacent connection domain method for end face positioning

至此,便已成功提取端面連通域,此連通域即套圈端面區(qū)域(圖6),后續(xù)的缺陷檢測(cè)只需處理套圈端面區(qū)域內(nèi)的圖像,為節(jié)省后續(xù)運(yùn)算時(shí)間奠定基礎(chǔ)。

圖6 端面區(qū)域定位結(jié)果

Fig.6 Positioning result of end face area

2、缺陷檢測(cè)

本研究將套圈缺陷分為外形缺陷(大小邊、磕碰傷)和外觀缺陷(車廢、磨傷等端面損傷)。


2.1 外形缺陷判別

對(duì)于外形缺陷,用最小二乘法計(jì)算所提取2條套圈端面輪廓的大、小圓圓心,通過圓心距離進(jìn)行判定。如圖7所示:如果大、小圓的圓心距離dc超過設(shè)定的閾值Dmax,則將其判定為大小邊缺陷;如果外圓圓心最短距離dout與外圓半徑rout的差值Δout超過設(shè)定的閾值Dout,則將其判定為外圓磕碰傷缺陷;如果內(nèi)圓圓心最長(zhǎng)距離din與內(nèi)圓半徑rin的差值Δin超過設(shè)定的閾值Din,則將其判定為外圓磕碰傷缺陷;

圖7 外形缺陷判別

Fig.7 Discrimination of shape defects

2.2 外觀缺陷判別

2.2.1 圖像坐標(biāo)系轉(zhuǎn)換

套圈端面是一個(gè)圓環(huán),直接進(jìn)行圖像分割會(huì)被套圈外的黑色區(qū)域嚴(yán)重干擾而無法正確提取缺陷,因此需要將提取的套圈端面進(jìn)行坐標(biāo)系變換,將端面圓環(huán)拉伸成便于后續(xù)處理的矩形。局部分割算法可以在變換后的矩形中進(jìn)行,提取缺陷后再將圖像從極坐標(biāo)系變換至直角坐標(biāo)系。


如圖8所示,點(diǎn)Px,y坐標(biāo)分別表示其距離原點(diǎn)O的水平距離與垂直距離;點(diǎn)P'的坐標(biāo)u,v分別表示點(diǎn)Р在圖8a中相對(duì)圓心(rx,ry)的極角與極徑。

圖8 直角坐標(biāo)系轉(zhuǎn)極坐標(biāo)系

Fig.8 Conversion from Cartesian coordinate system to polar coordinate system

為避免變換后的矩形圖像長(zhǎng)寬比過大并提高圖像處理速度,指定變換后的矩形長(zhǎng)為L,寬為H,設(shè)定極角比例因子μθ為2π/L,極徑比例因子μl為(R-r)/H。對(duì)于直角坐標(biāo)系Р點(diǎn)到極坐標(biāo)系P'點(diǎn)的轉(zhuǎn)換,數(shù)學(xué)對(duì)應(yīng)關(guān)系為

得到Р點(diǎn)與P'點(diǎn)的對(duì)應(yīng)坐標(biāo)后,便可以將P'點(diǎn)的灰度值設(shè)置為Р點(diǎn)最鄰近插值,其關(guān)系式為

式中:f'(u,v)為矩形P'點(diǎn)的像素值;f(x,y)為原圖中Р點(diǎn)的最鄰近插值。


圓環(huán)拉伸成矩形的轉(zhuǎn)換效果如圖9所示,將圓環(huán)拉伸成矩形后,對(duì)矩形圖的缺陷進(jìn)行提取。

圖9 坐標(biāo)系轉(zhuǎn)換效果圖

Fig.9  Coordinate system conversion effect diagram

在矩形圖中利用圖像分割提取缺陷后,為便于判定,需要將缺陷轉(zhuǎn)換到圓環(huán)中,極坐標(biāo)系轉(zhuǎn)換為直角坐標(biāo)系的對(duì)應(yīng)關(guān)系為


同理,得到P點(diǎn)與P'點(diǎn)的對(duì)應(yīng)坐標(biāo)后,便可以將Р點(diǎn)的灰度值設(shè)置為P'點(diǎn)灰度值,即

由于轉(zhuǎn)成極坐標(biāo)系時(shí)會(huì)造成部分像素點(diǎn)丟失,在重新轉(zhuǎn)換為直角坐標(biāo)系時(shí)不一定會(huì)有對(duì)應(yīng)的像素點(diǎn),而如果直接選取與坐標(biāo)值距離最近的像素點(diǎn)進(jìn)行轉(zhuǎn)換可能會(huì)造成失真,因此,在尋找P'點(diǎn)像素值時(shí)需要運(yùn)用雙線性插值進(jìn)行轉(zhuǎn)換。


雙線性插值是在水平方向與垂直方向運(yùn)用2次線性插值的方法。如圖10所示,P'點(diǎn)為轉(zhuǎn)換后的未知點(diǎn),其坐標(biāo)(u,v)不一定為整數(shù)值,距其最近的4個(gè)整數(shù)點(diǎn)為Q11(u1,v1),Q12(u1,v2),Q21u2v1 ),Q22(u2,v2)。首先,在v軸方向根據(jù)P'點(diǎn)的v軸坐標(biāo)值進(jìn)行插值,在Q11,Q12中插人R1點(diǎn),在Q2l,Q22中插入R2點(diǎn);然后,根據(jù)P'點(diǎn)的u軸坐標(biāo)值與插入的R1點(diǎn)、R2點(diǎn)在u軸方向插入P'點(diǎn)。P'點(diǎn)像素值的計(jì)算公式為

式中:f'(x)為x點(diǎn)的像素值。

圖10 雙線性插值原理圖

Fig.10 Bilinear interpolation principle diagram

通過雙線性插值將拉伸后的矩形(圖9b)重新轉(zhuǎn)換為圓環(huán)的效果如圖11所示。

圖11 雙線性插值轉(zhuǎn)換效果圖

Fig.11 Bilinear interpolation conversion effect diagram

2.2.2 圖像分割

圖像分割是指利用圖像中的灰度、紋理、空間等特征,將圖像細(xì)分為子區(qū)域并突出這些子區(qū)域?qū)ψ陨淼南嗨菩约皩?duì)其他子區(qū)域的不連續(xù)性,終提取出感興趣的區(qū)域。圖像分割的效果直接決定了后續(xù)特征分析的難度與檢測(cè)系統(tǒng)的質(zhì)量。因此,需要針對(duì)檢測(cè)目標(biāo)找到最合適的分割方法。


經(jīng)過大量試驗(yàn)對(duì)比,選擇Sauvola局部二值化算法12進(jìn)行圖像分割。計(jì)算以點(diǎn)(x,y)為中心的窗口模板內(nèi)的灰度均值m(xy)與標(biāo)準(zhǔn)方差σ(x,y) ,則點(diǎn)(x,y)的閾值T(x,y)為

式中:R為標(biāo)準(zhǔn)方差的動(dòng)態(tài)范圍,本文檢測(cè)對(duì)象為八位灰度圖,故R取128;k為調(diào)整系數(shù),Sauvola算法的優(yōu)點(diǎn)在于k的微小變化不會(huì)顯著影響二值化的結(jié)果。


利用Sauvola局部二值化算法對(duì)車廢、磨傷、無缺陷但光照不均這3種情況進(jìn)行分割試驗(yàn),調(diào)整系數(shù)k取0.08,分割效果如圖12所示。


圖12 Sauvola算法的分割效果

Fig.12 Segmentation effect by Sauvola algorithm

2.2.3 基于多特征的外觀缺陷識(shí)別

在完成缺陷分割后,由于生產(chǎn)狀況、光照不均等外部因素的影響,有可能存在噪聲區(qū)域或偽缺陷區(qū)域,需要對(duì)分割后的圖像進(jìn)行圖像特征統(tǒng)計(jì)與分析,根據(jù)分析結(jié)果進(jìn)行缺陷判別。


如圖12a所示,車廢缺陷區(qū)域與端面正常區(qū)域相比,其灰度值較低且一般沿著圓周方向分布于端面上。因此,選取區(qū)域面積S、區(qū)域輪廓長(zhǎng)度L、最小外接矩形主軸至圓心距離D作為車廢缺陷的判別特征。判別示意圖如圖13所示。


提取出缺陷區(qū)域后可以計(jì)算出該缺陷的最小外接矩形與該外接矩形的主軸直線公式,Ax+By+C=0于是小圓圓心(x0,y0)至主軸直線的距離D

圖13 缺陷最小外接矩形主軸至圓心距離計(jì)算示意圖

Fig.13 Calculation diagram of distance from main axis of minimum circumscribed rectangle to center of defect

提取出缺陷后,計(jì)算該缺陷的區(qū)域面積S與區(qū)域輪廓長(zhǎng)度L,如果缺陷面積與輪廓長(zhǎng)度皆未超過設(shè)定閾值,則視為無此類型缺陷轉(zhuǎn)而進(jìn)行下一缺陷的識(shí)別;否則進(jìn)一步計(jì)算最小外接矩形主軸至小圓圓心的距離,由于車廢細(xì)化后呈圓弧形,故圓心至主軸的距離會(huì)大于小圓半徑,所以將小圓半徑設(shè)為距離閾值TD,若距離D超過閾值TD,則將此套圈判定為車廢缺陷。


如圖12b所示,磨傷缺陷均分布在端面邊緣靠近大圓處,形狀近似月牙形,且灰度值比端面正常區(qū)域低,因此同樣需要對(duì)磨傷缺陷進(jìn)行特征分析。由于磨傷缺陷邊緣靠近圓心一側(cè)近似于一條直線,可以用Hough線變換將這條直線擬合出來。如圖14所示,直線在極坐標(biāo)系中的表達(dá)式為

圖14 直線在直角坐標(biāo)系與極坐標(biāo)系中的表示

Fig.14 Representation of straight lines in Cartesian coordinate system and polar coordinate system

對(duì)于(14)式,可以理解為過點(diǎn)(x0y0)的直線集有以下表達(dá)式

則在極坐標(biāo)系的極徑、極角平面中,由(15)式所得曲線中的任一點(diǎn)都表示一條過點(diǎn)(x0,y0)的直線。


將圖像中所有的點(diǎn)(xi,yi)代入(14)式中,如圖15所示,如果多個(gè)不同的點(diǎn)在極坐標(biāo)系中得到的曲線相交,便意味著這些點(diǎn)可以連成一條直線。如果同時(shí)相交的數(shù)量超過了設(shè)定的閾值,則對(duì)該直線進(jìn)行擬合。

圖15 極徑極角平面中多條曲線相交

Fig.15 Intersection of multiple curves in polar radius and polar angle plane

找出磨傷缺陷邊緣的直線后,計(jì)算缺陷區(qū)域與正常區(qū)域的灰度差進(jìn)行判別,判別示意圖如圖16所示。利用Sauvola算法分割出磨傷缺陷后,在缺陷邊緣靠近圓心一側(cè)利用Hough線變換擬合出直線L1,再將直線向靠近圓心方向平移一定距離(本文取8個(gè)像素)得到直線L2,在原圖像端面上提取直線L1遠(yuǎn)離圓心一側(cè)的區(qū)域S1,以及直線L1L2之間的區(qū)域S2,計(jì)算2塊區(qū)域灰度值均值的差值,差值超過設(shè)定闕值即可判定為磨傷缺陷。

圖16 磨傷缺陷判別示意圖

Fig.16 Discrimination diagram of wear defects


3、試驗(yàn)結(jié)果及分析

為驗(yàn)證端面缺陷檢測(cè)算法的可靠性,在如圖17所示的檢測(cè)線上對(duì)軸承套圈端面進(jìn)行缺陷檢測(cè),選取外徑150 mm、內(nèi)徑90 mm 的33118型軸承套圈樣本1 000個(gè),其中合格品400個(gè)、外形缺陷樣品200個(gè)(含大小邊、磕碰傷)、車廢樣品200個(gè)、磨傷缺陷200個(gè)。

圖17 在線端面檢測(cè)系統(tǒng)

Fig.17 On-line inspection system for end face

在線檢測(cè)的統(tǒng)計(jì)結(jié)果見表1,由表可知:合格套圈出現(xiàn)9個(gè)誤檢,仔細(xì)觀察套圈表面并分析圖像特征發(fā)現(xiàn)套圈外邊緣在磨削過程中出現(xiàn)了砂輪花,使該部分區(qū)域灰度值偏低且表現(xiàn)相似于磨傷缺陷,故將其誤檢為磨傷缺陷,而砂輪花只影響端面美觀,因此這類誤檢可以接受;車廢套圈與磨傷套圈總共出現(xiàn)5個(gè)漏檢,分析后發(fā)現(xiàn)漏檢原因?yàn)槿毕葺^細(xì)微,即使是肉眼觀察也不易立刻察覺,此類問題同樣可以接受;系統(tǒng)整體識(shí)別準(zhǔn)確率達(dá)98.60%,而且對(duì)于外徑小于150 mm套圈的檢測(cè)時(shí)長(zhǎng)小于600 ms,低于端面磨出料時(shí)長(zhǎng),完全能夠滿足企業(yè)生產(chǎn)節(jié)拍和檢測(cè)要求。

表1 端面缺陷檢測(cè)測(cè)試結(jié)果

Tab.1 Inspection results of end face defects


另外,對(duì)不同型號(hào)的套圈也進(jìn)行了多次檢測(cè),識(shí)別準(zhǔn)確率較高,誤漏檢率較低,響應(yīng)時(shí)間較短,并能實(shí)時(shí)統(tǒng)計(jì)被檢測(cè)套圈的型號(hào)、數(shù)量、合格率、缺陷種類等數(shù)據(jù),滿足企業(yè)生產(chǎn)在線檢測(cè)要求,可以替代人工實(shí)現(xiàn)檢測(cè)。


4、結(jié)束語

本文研究并實(shí)現(xiàn)了套圈端面缺陷在線檢測(cè)算法,利用四連通域確定套圈端面區(qū)域,采用最小二乘法擬合套圈輪廓進(jìn)行大小邊和磕碰傷的判別;提出了圖像極坐標(biāo)變換將套圈環(huán)形拉伸為矩形,利用Sauvola算法進(jìn)行圖像局部閾值分割,通過極坐標(biāo)反變換與二次插值法將缺陷區(qū)域變換回環(huán)形區(qū)域,基于多特征的外觀缺陷判別方法能夠根據(jù)各類缺陷的特點(diǎn)對(duì)圖像特征進(jìn)行比較實(shí)現(xiàn)缺陷判別。試驗(yàn)表明該算法的檢測(cè)準(zhǔn)確率高,能夠有效減少漏檢或誤檢,并且能實(shí)時(shí)統(tǒng)計(jì)缺陷種類等數(shù)據(jù)。

(參考文獻(xiàn)略)

文章發(fā)表于2022年2期《軸承》


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